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產(chǎn)品名稱:山西冠恒半導體電阻率測試儀*

產(chǎn)品型號:GHSTZ-522

產(chǎn)品報價:

產(chǎn)品特點:GHSTZ-522山西冠恒半導體電阻率測試儀*本儀器適用于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門、是檢驗和分析固態(tài)和粉態(tài)樣品質量的一種重要優(yōu)良工具。

GHSTZ-522山西冠恒半導體電阻率測試儀*的詳細資料:

一、滿足國標:

GB/T 24521-2009和YS/T587.6-2006有關美標和行業(yè)標準。GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國A.S.T.M 標準。

測試臺設計符合符合新GBT 30835-2014《鋰離子電池用炭復合磷酸鐵鋰正極材料》

二、升級后的好處:

采用通用的電流、電壓四端子測量法(儀器電流源和電壓表兩個單元分別從獨立回路連至電極同時和試樣接觸)可以消除電極與連接導線通電阻產(chǎn)生的誤差,客服了傳統(tǒng)的二端法測量粉末電阻率儀器的弊病,可以真實的、準確的測量出粉末樣品的電阻率,因此重復性也好。

三、適用材料:

本測試儀配有成套PC軟件,故不但可以單獨(脫機)操作,還可以連接PC軟件,自動保存當前測試數(shù)據(jù)、查詢并統(tǒng)計分析歷史數(shù)據(jù)、打印測試報告等!

本儀器具有測量精度高,操作簡便、穩(wěn)定性好,重復性好,一機多用使用方便等特點。也是區(qū)別于以往舊款同類測試臺新特點!本儀器適用于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門、是檢驗和分析固態(tài)和粉態(tài)樣品質量的一種重要優(yōu)良工具。

四、儀器的結構:

儀器組成:整套儀器有主機和粉末測試臺兩大部分組成。

儀器主機是整個系統(tǒng)電氣控制顯示核心部分,主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)單元以及壓力厚度顯示單元組成。

粉末測試臺:是連接測試主機,用來裝夾半導體粉末(含高分子粉末和金屬粉末等),進行壓力施加(壓片)并同步進行電阻率測試的裝置(以下簡稱測試臺)。
測試臺為粉末標準容器、電極、加壓機構、壓力檢測、厚度檢測、連接線纜等單元組成。

壓力機構采用手動操作,壓力(壓強)平穩(wěn)可調、可保持。電子傳感器自動同步檢測、顯示壓力(壓強)值和樣本高度。故本測試臺可一邊加壓一邊同步測試電阻率,可方便測繪粉末樣品“電阻率-壓強”的性能曲線;也可以單獨作為粉末壓制成片的工具使用,成片后可脫模取出,用普通四探針法測試相關參數(shù)!

五、技術參數(shù):

1.電阻率測量范圍、分辨率:

電阻率:15.0×10-6 ~ 200.0×103 Ω-cm(1.0×10-6 ~ 200.0×101 Ω-cm)

分辨率:1.5×10-6 ~ 0.1×10 Ω-cm(0.1×10-6 ~ 0.1×10 Ω-cm)

2.電阻率量程劃分及錯誤等級:

滿度顯示

200.0

20.00

2.000

200.0

20.00

2.000

200.0

20.00

拓展量程

KΩ-cm

Ω-cm

mΩ-cm

基本誤差

±2%讀數(shù)±4字

±1.5%讀數(shù)±4字

±0.5%讀數(shù)

±2字

±0.5%讀數(shù)

±4字

3.數(shù)字電壓表:

量程:10mV ~ 100 mV自動

顯示:4位有效數(shù)字,顯示999.9  小數(shù)點、單位自動顯示

4.數(shù)控恒流源:

電流輸出:直流電流0.1µA~1000mA可調,系統(tǒng)自動步進調整。

六、粉末測試臺部分參數(shù):

1.試樣成份:成份不限,但不得含有對測試臺和電極有腐蝕作用的成份。

2.試樣粒度:標準以40目以下—60目以上(標準篩網(wǎng)),一般其他粒度也可!

3.試樣容器:內(nèi)徑:Φ11.28mm(S=1.0cm2)高度:0~20mm可調,帶高度傳感器監(jiān)測,測量誤差:±0.05mm。

4.測試壓強標準壓強:P0=4Mpa±0.05Mpa。壓強量程:20Mpa, P=0~20 Mpa可調。

5.壓力機構采用手動操作、壓力平穩(wěn)可調。

6.四位有效顯示數(shù)00.00~20.00MPa,分別率±0.01 MPa。

7.測試儀外形尺寸:250*220*540mm

8.測試儀重量:10Kg

9.電源:功耗:< 10W  輸入:220V±10% 50Hz

10.本儀器工作條件為:溫度:0-40℃相對濕度:≥60%工作室內(nèi)應無強電磁場干擾,不與高頻設備共用電源。

山西冠恒半導體電阻率測試儀*   山西冠恒半導體電阻率測試儀*

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